E. Stolarski "Miernictwo tranzystorowe"
Państwowe Wydawnictwa Techniczne, wydanie pierwsze, Warszawa, 1961
- Zagadnienia ogólne (11)
Pomiary podstawowe. Pomiary określające właściwości wzmacniające małej i wielkiej częstotliwości tranzystora. - Ogólne uwagi dotyczące pomiarów (34)
- Pomiary charakterystyk statycznych tranzystorów (39)
Zdejmowanie charakterystyk statycznych metodą "punkt po punkcie". Metoda impulsowa (oscyloskopowa). - Pomiary parametrów statycznych (57)
Pomiary napięć maksymalnych. Pomiary prądów zerowych. Pomiar napięcia nasycenia (szczątkowego). Pomiar zwarciowego współczynnika wzmocnienia dla prądu stałego. - Pomiar parametrów cieplnego układu zastępczego tranzystora (62)
- Metody pomiaru parametrów tranzystorów oparte na zasadzie graficznej, na pomiarze przyrostów napięć i prądów stałych lub pomiarze napięć i prądów zmiennych o małej amplitudzie i małej częstotliwości (70)
Metoda graficzna. Metoda przyrostów prądów lub napięć stałych. Pomiary macierzy parametrów [r], [g] i [h] przy małych częstotliwościach i małych sygnałach. Pomiary parametrów tranzystorów przy małej częstotliwości i małych sygnałach metodami mostkowymi. - Pomiar parametrów przy dużych sygnałach i małej częstotliwości (tranzystory mocy) (103)
- Pomiar tranzystorów wielkiej częstotliwości (108)
Pomiar parametrów czwórnikowych. Pomiary elementów "fizycznego" schematu zastępczego tranzystorów. Pomiary współczynnika wzmocnienia prądowego w funkcji częstotliwości. Pomiary parametrów roboczych. - Pomiary parametrów w funkcji częstotliwości lub punktu pracy (155)
Badanie zależności parametrów tranzystora od częstotliwości. Badanie zależności parametrów tranzystora od punktu pracy. - Pomiar szumów tranzystora (162)
Pomiar współczynnika szumów przy użyciu generatora drgań sinusoidalnych. Pomiar współczynnika szumów przy użyciu generatora szumów. - Pomiar parametrów tranzystorów impulsowych (173)
